汎銓科技於25日宣布對光焱科技提起專利侵權訴訟，並求償新台幣2億元，指控其侵害第 I870008B 號「光損偵測裝置」發明專利。然而，光焱科技隨即於26日發布新聞稿嚴正反擊，強調雙方技術存在顯著世代落差，並譴責此舉為意圖干擾市場運作之不正當競爭行為。光焱科技發言人廖清霖指出，公司迄今尚未收到任何法院訴訟函件。
訴訟爭議浮現：光焱科技堅決捍衛創新與市場秩序
針對汎銓科技的專利侵權指控，光焱科技發言人廖清霖明確表示，截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。光焱科技對於同業在未經司法程序前，即試圖透過媒體發布資訊煙霧彈，實則以法律手段干擾市場正常運作、阻礙產業創新之行為深感遺憾。這不僅挑戰了市場公平競爭的原則，更可能對產業的健康發展造成負面影響。
光焱科技發言人廖清霖嚴正譴責：「對於同業在未經司法程序前，即試圖透過媒體發布資訊煙霧彈，實則以法律手段干擾市場正常運作、阻礙產業創新之行為深感遺憾，並對此類不正當之競爭手段予以嚴正譴責。」
光焱科技強調，其深耕光學與光電子晶片檢測領域長達16年，一向極度尊重智慧財產權。公司所有核心產品均為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司之技術與專利。面對此次同業的不實指控與行銷操作，光焱科技重申公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響，並將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東之合法權益。
技術世代鴻溝：舊專利難以涵蓋次世代高光譜成像
光焱科技指出，此次專利爭議的核心在於雙方檢測技術的世代差異。汎銓所宣稱的專利，係採用傳統「金相顯微鏡」組成之方案進行光損量測。相較之下，光焱科技則是以次世代、更為先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心技術。這項創新技術可高度整合於客戶端的系統，例如探針台或電測機，直接進行矽光子光學檢測，而光損檢測僅是其多功能模組中的一項應用。
光焱科技堅定認為，以舊時代的「金相顯微鏡」專利來指控其新世代的「高光譜影像感測模組」侵權，在技術層面上是完全站不住腳的。這如同試圖用馬車的專利去限制現代汽車的發展，兩者在技術原理與實踐方式上存在根本性的不同。
針對汎銓於記者會上宣稱其專利曾挺過17項舉發而維持有效，光焱科技亦提出專業見解予以反擊。經檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主因係舉發人當時提出的是更先進的檢測技術與零組件作為證據，主管機關因此認定與汎銓採用之傳統金相顯微鏡技術「無關」。這恰好證明了該專利所保障的僅是舊世代技術，進而明確證實光焱科技採用的高光譜成像系統與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權之疑慮。
專利保護界線與產業展望：定義「光損檢測」的挑戰
產業界普遍認知，「專利」所保障的是特定的技術實施手段，而非將某個功能或術語註冊為商標來買斷整個市場。光焱科技進一步強調，不能因為汎銓針對其舊技術申請了專利，就無限上綱認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備皆侵害其權益。若依此邏輯，近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣佈進軍光損檢測領域，難道也構成對汎銓的侵權？此論點凸顯對方說法在產業技術與法律邏輯上皆有失偏頗。
- 技術世代差異：汎銓專利基於傳統金相顯微鏡，光焱則採用次世代高光譜成像技術。
- 專利範圍界定：專利保護特定實施手段，而非廣泛的功能應用。
- 市場競爭公平性：譴責透過法律手段干擾市場運作、阻礙產業創新。
- 公司營運狀況：光焱科技營運、業務及設備出貨均正常，財務業務不受影響。
這起專利訴訟不僅是兩家公司之間的爭議，更反映出在半導體與光電子產業快速發展的背景下，智慧財產權保護如何與技術創新並存的挑戰。隨著矽光子等新興技術的崛起，檢測方法的演進速度超越以往，如何精準界定專利保護範圍，以鼓勵創新而非阻礙進步，將是司法與產業必須共同面對的重要課題。此案的發展將對台灣半導體檢測設備產業的未來競爭格局，產生一定的影響。
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