事件總覽：2026年3月26日，半導體檢測領域掀起波瀾，光焱科技（7728）嚴正反擊汎銓科技（6830）的專利侵權指控，核心爭議點聚焦於「光損偵測裝置」發明專利，光焱直指汎銓以傳統金相顯微鏡技術，試圖綑綁其新世代高光譜成像技術，這不僅是技術世代的落差，更涉及產業創新的自由與智慧財產權的合理界定。
📅 2026年3月26日：光焱嚴正反擊專利侵權指控
話說回來，這場專利爭議的序幕，是汎銓科技透過公開資訊觀測站及記者會，單方面宣稱光焱科技侵害其第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並提出高額求償。對此，光焱科技於2026年3月26日發布聲明，嚴正駁斥所有指控。光焱強調，截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件，對於同業在尚未經過完整司法程序前，就透過媒體發布資訊，試圖阻礙產業創新的行為，深感遺憾，並對此類競爭手段予以嚴厲譴責。
📅 專利爭議核心：金相顯微鏡 vs. 高光譜成像
究竟爭議點在哪？光焱科技指出，雙方在檢測技術上存在顯著的世代差異。汎銓所主張的專利，其核心技術是採用傳統的「金相顯微鏡」組成方案進行光損量測。而光焱科技的技術，則是基於次世代、更為先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心，這項技術能夠高度整合於客戶端的系統中，例如探針台或電測機，直接進行矽光子光學檢測。有趣的是，光損檢測其實只是光焱在矽光子晶片檢測多功能模組中的其中一項應用，並非其技術的全部。光焱科技明確表示，拿之前的金相顯微鏡專利，來控告他們新世代的高光譜影像感測模組，在技術本質上是完全站不住腳的，雙方的技術實施手段截然不同，自然無從構成侵權。
📅 專利舉發案解析：技術「無關」非「無效」
汎銓科技曾在記者會上高調宣稱，其專利曾挺過17項舉發而維持有效。然而，光焱科技也提出專業見解反擊。經光焱檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主要原因在於當時舉發人提出的證據，是更為先進的檢測技術與零組件，主管機關因此認定這些證據與汎銓採用之傳統金相顯微鏡技術「無關」。這恰恰證明了該專利所保障的，僅限於汎銓自身採用的傳統技術，進而明確證實光焱科技所採用的高光譜成像系統，與汎銓的技術存在根本性差異，因此毫無侵權疑慮。
📅 業界視野：專利保障的是「實施手段」而非「功能」
說真的，產業界對於「專利」的理解，向來是保障特定的技術實施手段，而非將某個功能詞彙，例如「光損檢測」，註冊為商標來買斷整個市場。光焱科技表示，不能因為汎銓針對其自有技術申請了專利，就無限上綱認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備都侵害其權益。若按照這個邏輯，近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣布進軍光損檢測領域，難道也構成對汎銓的侵權？這顯然凸顯了對方說法在產業技術與法律邏輯上都有失偏頗。
至今影響與未來展望
光焱科技深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達16年，對於智慧財產權向來極度尊重，所有核心產品均為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司的技術與專利。面對此次同業的不實指控與行銷操作，光焱科技強調公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。後續將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東的合法權益。這場專利風波，不僅是對光焱技術實力的考驗，也將引導業界更深入思考，如何在保護既有專利的同時，為新世代技術的創新發展預留足夠空間。
About the Author
